Alexander.dushin
Новичок
- Регистрация
- 22.12.2015
- Сообщения
- 3
- Реакции
- 0
Работал кто нибудь с этим прибором?
Dio 1000 pa
- Автор темы Alexander.dushin
- Дата начала
Алексей Чёрный
Бывалый
Alexander.dushin
Новичок
- Регистрация
- 22.12.2015
- Сообщения
- 3
- Реакции
- 0
Все эти видео ролики пересмотрены,смущает цена,заметно ниже,по сравнению с олимпусом,насколько я понял эта модель класический контроль функцию не поддерживает,нужно покупать уже другую модель прибора,может кто пользовался антенной решеткой посоветует другую модель,рассмотрю и отечественное
насколько я знаю- да, все поддерживают, для них классический контроль частный случай. просто использовать дефектоскоп с ФР (АР) вместо обычного это все одно, что микроскопом гвозди забивать.
здесь прямо сказано, что все поддерживается https://www.youtube.com/watch?v=WoURTwMcmd8
Последнее редактирование:
Размеры и масса тоже поменьше.
И еще она ее эмулирует функцией А-скана с определенным углом во время сканирования ФР. Ведь очень важно не просто озвучить все интересующее сечение, а сделать это под определенным углом.
Колян2
Дефектоскопист всея Руси
А про эту "мульку" можно чуть подробнее или где почитать.
UZK-Element
Мастер дефектоскопии
- Регистрация
- 14.03.2015
- Сообщения
- 1,002
- Реакции
- 68
а-скан отображается вместе с сектором фар. на одном экране. очень полезно.
я так понимаю, что озвучивается сечение под разными углами с некоторым шагом, в противном случае никакого разделения отверстий не было бы (в самом начале ролика). поэтому А-сканов получается много - сколько углов озвучивания столько и А-сканов, но на экране показывается только один соответствующий выбранному углу. в общем это типичная работа подобных дефектоскопов. под термином "эмулирует", я так понял, вы скрыли алгоритм формирования А-скана.
возможно и полезно, но я думаю, это реально мало что дает. техника ФР (АР) эффективна для систем позиционирования и визуализации, при этом поперечное сканирование датчика также происходит, тогда контроль уже может качественно отличаться от классического.
в том варианте как сейчас представлено это скорее заявка на потенциальные возможности и не более. я бы даже сказал в этом ролике есть элемент антирекламы ФР. сначала рассказывается о том как хороши ФР, а потом предлагается контроль проводить по классическому УЗК и действующей нормативке. интересно да? зачем спрашивается иметь дефектоскоп, который в несколько раз дороже (менее удобен по весу) и выполнять фактически обычный контроль. ну в ролике сказано, что не надо делать поперечное сканирование и так все видно. ну, не знаю, мне кажется, что все одно сканировать придется: формально этого требует штатный норматив, и если с одного места, то несплошность озвучивается все одно только одним углом, но не нормативным. есть нюансы, конечно.
как инструмент для более тонкого анализы в некоторых, подходящих случаях я бы от такого дефектоскопа не отказался, а для поточного контроля, мне кажется, не очень удобно.
Я так понял, что из множества А-сканов выбираются сканы для заданного угла. Возможно, в постобработке можно задавать разные углы. Но это не означает отсутствие необходимости продольного сканирования. Т.е. это попытка привязать ФР к возможности оценки результатов по НТД для обычного ПЭП. С ФР все красиво получается на БЦО. С плоскостными несплошностями сложнее. Там, конечно, немного помогает дифракция от светлых точек. Но вопрос прорабатывать надо, чувство повышать, с сигнал/шумом разбираться и много чего еще. Вот и полезли ФРщики в сканирование двумя решетками с одновременным (не нравится мне это слово, не правильное оно для УЗК) TOFD. Понятно, что такой TOFD хуже будет. На сколько? А вот выложил бы кто-нибудь для сравнения результаты TOFD с помощью ФР и с помощью специальных ПЭП TOFD.
1. при сканировании с заданным шагом получается количество А-сканов равное отношению (диапазон угла)/(шаг по углу). все эти А-сканы отображаются на S-скане (так он кажется называется). параллельно можно отобразить любой из сформированных в виде обычного А-скана. т.е. эта опция не стоит никаких специальных усилий (всех дефектоскопов с ФР я не видел, но у тех которые видел эта возможность присутствует). поэтому ничего не обычного в Dio 1000 pa нет.
2. наверное, имелось ввиду поперечное сканирование. я уже писал, что попытки привязать дефектоскопы на АР к штатной нормативке крайне тупы. не получается ничего. вот в том ролике, что мы смотрели необходимость поперечного сканирования есть обязательное требование НТД, а в ролике пытаются обосновать преимущество Dio 1000 pa тем, что поперечно сканировать не надо- только вдоль и, если что-то появится на экране, то только после этого можно наехать нужным углом. это не по нормотивке- у нас все нужно озвучивать одним углом. правда, это формальное требование его можно бы и устранить, но без поперечного сканирования часто не возможно озвучить весь шов, так геометрически получается, особенно для симметричных двухсторонних.
то, что будет хуже не факт. все будет зависеть от характеристик того и другого. поэтому если даже кто-то и выложит данные для сравнения, то всегда будут вопросы к конкретным преобразователям. у ФР в этом смысле возможностей может быть побольше- это и синтез и возможность фокусировки. конечно, оборудование на ФР будет существенно сложнее и дороже. практики работы с ФР у меня нет, поэтому так размышления.
Поясните, пожалуйста. Ведь есть очень специальные ПЭП для ТОФД у которых прежде всего, очень короткий импульс. А если взять обычную ФР, у которой этот импульс не очень короткий, получится ли не хуже?
В этом и есть нюанс. Озвучить-то можно,например, включив 2-е и 3-е отражение, а под нужным углом - нет.
С Dio 1000 pa я только поверхностно знакомился. Надо будут посмотреть, есть ли аналогичное в ISONIC. Перестроится точно можно, а так, чтобы сразу из секторскана выдергивало - не помню.
короткий импульс есть следствие использования специальной керамики (композитной), в остальном эти ПЭП не сильно отличаются от обычных. я почти не работал с ФР, поэтому точных или даже сравнительных тестов не делал, но что мешает использовать ту же самую керамику и, в общем, ту же технологию. в любом случае, производители стремятся к сокращению длительности излученного импульса и для ФР и для других преобразователей. в книжке Олимпус есть данные по ФР и по длительности там изображено около 2-х периодов, что очень не плохо.
возможно, у ФР с шумами может быть похуже из-за паразитной связи между пластинами, но зато за счет эффективной фокусировки (размеры большие) и возможности электронного сканирования сами дифракционные сигналы будут больше. плюс синтезировать можно грамотно и в результате должно ожидать выигрыш.
ну и, наверное, ФР используют TOFD прицепом. оборудование имеет серьезные ресурсы так почему бы не совместить и то и другое, все можно реализовать в одном сканировании, а информации будет существенно больше.
