Оценка глубины залегания дефектов в многослойных сотовых конструкциях из ПКМ

Ответить

admin

Admin
Регистрация
16.04.2012
Сообщения
6,710
Реакции
1,838
Адрес
Омск
В свежем выпуске электронного научно-технического журнала "Труды ВИАМ" (№12, 2022) вышла статья "Оценка глубины залегания дефектов в многослойных сотовых конструкциях из ПКМ при импедансном контроле серийными дефектоскопами" (В.Ю. Чертищев, А.С. Бойчук, И.А. Диков, М.А. Горбовец).
 

Вложения

  • 1957.pdf
    1957.pdf
    1.3 MB · Просмотры: 11
Сверху