Способ приложенного поля - Неразрушающий контроль | Форум Дефектоскопист
Неразрушающий контроль | Форум Дефектоскопист
Вернуться   Неразрушающий контроль | Форум Дефектоскопист > Форум Дефектоскопист > Магнитопорошковый контроль


Ответ
 
Опции темы Опции просмотра
Старый 15.07.2012, 17:35   #1
SArmat98
 
Регистрация: 13.07.2012
Сообщений: 4
Благодарил(а): 0 раз(а)
Поблагодарили: 0 раз(а)
Репутация: 0
По умолчанию Способ приложенного поля

Дефектоскоп у нас не очень-то мощный, а сейчас пошли детали с большим диаметром. Боюсь, намагничивание нам не удастся - способ приложенного поля, читал, подойдет. Насколько это будет эффективно?
SArmat98 вне форума   Ответить с цитированием
Старый 16.07.2012, 08:53   #2
Гость
 
Сообщений: n/a
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

Так и надо - все будет в норме
  Ответить с цитированием
Старый 17.07.2012, 05:51   #3
Гость
 
Сообщений: n/a
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

Почитай РД 13-05-2006
  Ответить с цитированием
Старый 25.07.2012, 14:00   #4
Гость
 
Сообщений: n/a
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

Не кипишуй, верно излагаешь
  Ответить с цитированием
Старый 30.07.2012, 14:35   #5
Жара
Новичок
 
Регистрация: 04.07.2012
Сообщений: 16
Благодарил(а): 0 раз(а)
Поблагодарили: 0 раз(а)
Репутация: 0
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

Да как же это без намагничивания! Это уже не совсем магнитопорошковый контроль, а что-то другое
Жара вне форума   Ответить с цитированием
Старый 31.07.2012, 16:40   #6
Lota
 
Регистрация: 20.07.2012
Сообщений: 3
Благодарил(а): 0 раз(а)
Поблагодарили: 0 раз(а)
Репутация: 0
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

СПП применяется при намагничивании. Или есть еще какое-то поле при котором можно использовать этот способ?
Lota вне форума   Ответить с цитированием
Старый 19.11.2012, 16:59   #7
krn.spb
Новичок
 
Регистрация: 19.11.2012
Адрес: Санкт-Петербург
Сообщений: 47
Благодарил(а): 0 раз(а)
Поблагодарили: 3 раз(а)
Репутация: 1
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

Способ приложенного поля требует примерно в 3 раза меньшей мощности аппаратуры в сравнении с методом СОН (на глазок, а так считать надо). Да и по личному опыту более эффективен ИМХО. Однако советую заглянуть в ТКК (технологическая карта контроля) ибо для некоторых деталей требуют СОН.
__________________
Второй (II) уровень по МК, ВТК, УЗК, ВИК по ASNT -TC-1A. Дельта НДТ.
krn.spb вне форума   Ответить с цитированием
Старый 19.11.2012, 21:18   #8
Kaktus_SPb
Мастер Дефектоскопии
 
Аватар для Kaktus_SPb
 
Регистрация: 22.08.2012
Адрес: Санкт - Петербург
Сообщений: 2,175
Благодарил(а): 393 раз(а)
Поблагодарили: 422 раз(а)
Репутация: 425
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

В ГОСТ 21105 (как и в книге Шелихова), есть куча полезных расчетных формул.Но "Магнитнопорошковой дефектоскопии деталей и узлов" есть еще и ссылки и на зарубежные нормы ASME (Американское общество механиков-инженеров).
А по-хорошему надо смотреть отраслевые документы
Kaktus_SPb вне форума   Ответить с цитированием
Старый 20.08.2013, 13:00   #9
Elena Sergeevna
Новичок
 
Регистрация: 08.10.2012
Сообщений: 10
Благодарил(а): 4 раз(а)
Поблагодарили: 1 раз в 1 сообщении
Репутация: 0
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

Цитата:
Сообщение от krn.spb
Способ приложенного поля требует примерно в 3 раза меньшей мощности аппаратуры в сравнении с методом СОН (на глазок, а так считать надо). Да и по личному опыту более эффективен ИМХО. Однако советую заглянуть в ТКК (технологическая карта контроля) ибо для некоторых деталей требуют СОН.
Полностью согласна.
А еще лучше - связаться с разработчиком карты (если такая возможность есть) и согласовать замену СОН на СПП.
Зачастую, разработчик пишет карты под себя. У него мощности хватает - значит, СОН будет. Но это не всегда означает, что СПП недопустим.
Elena Sergeevna вне форума   Ответить с цитированием
Старый 24.08.2013, 08:13   #10
swc
Дефектоскопист всея Руси
 
Регистрация: 24.03.2013
Сообщений: 4,704
Благодарил(а): 174 раз(а)
Поблагодарили: 569 раз(а)
Репутация: 465
По умолчанию Re: Способ приложенного поля

[quote=Elena Sergeevna]
Цитата:
Сообщение от "krn.spb":21oggru2
Способ приложенного поля требует примерно в 3 раза меньшей мощности аппаратуры в сравнении с методом СОН (на глазок, а так считать надо). Да и по личному опыту более эффективен ИМХО. Однако советую заглянуть в ТКК (технологическая карта контроля) ибо для некоторых деталей требуют СОН.
Полностью согласна.
А еще лучше - связаться с разработчиком карты (если такая возможность есть) и согласовать замену СОН на СПП.
Зачастую, разработчик пишет карты под себя. У него мощности хватает - значит, СОН будет. Но это не всегда означает, что СПП недопустим.[/quote:21oggru2]
Мощность для СОН конечно важна. Но еще более важна остаточная индукция. Ну как Вам объяснить. Попробуйте намагнитить СОН швейную иглу поперек. :-D3 СПП можно всегда. А СОН с большими ограничениями.
swc вне форума   Ответить с цитированием
Ответ
Похожие темы
Тема Автор Раздел Ответов Последнее сообщение
Визуализация магнитного поля AlexSinara Магнитопорошковый контроль 39 18.09.2018 15:08
Способы сканирования при ультразвуковом контроле В мире НК Статьи о дефектоскопии 2 29.06.2015 07:01
Способ сканирования oksa Ультразвуковой контроль 4 01.07.2014 07:45
Порошковый способ регистрации дефектов Vektor Магнитопорошковый контроль 7 19.11.2012 16:54


Опции темы
Опции просмотра

Ваши права в разделе
Вы не можете создавать новые темы
Вы не можете отвечать в темах
Вы не можете прикреплять вложения
Вы не можете редактировать свои сообщения

BB коды Вкл.
Смайлы Вкл.
[IMG] код Вкл.
HTML код Выкл.

Быстрый переход

VK Defektoskopist OK Defektoskopist Facebook Defektoskopist Instagram Defektoskopist YouTube Defektoskopist


Текущее время: 15:16. Часовой пояс GMT +3. Copyright ©2000 - 2018. Перевод: zCarot.
Внимание, коллеги! В целях нормальной работы форума администрация оставляет за собой право на обработку персональных данных зарегистрированных пользователей. В случае вашего несогласия просьба написать жалобу на defektoskopist.ru@gmail.com