Практически ДА. Уменьшая длительность ЗИ Вы увеличиваете ЛУЧЕВУЮ разрешающую способность. Это возможно только на дефектоскопах. На толщиномерах длительность ЗИ не регулируется. Вообще-то лучевая разрешающая способность нужна, если Вам надо обнаружить дефект рядом с дном или различить близко расположенные дефекты. Для толщинометрии это все не нужно.
Сохраните, а потом откройте.
Может!
Программное обеспечение Civa подходит именно для моделирования различных процессов НК.Доброго времени суток. Собственно в чем задача: Есть математическая модель ультразвукового преобразователя для дефектоскопии алюминиевых слитков и ее нужно смоделировать. То есть подобрать датчик подходящий под расчеты и спроектировать ситуацию. По возможности это дело можно и визуализировать. Вот тут то и возникает вопрос, какими средствами это можно сделать? Заранее спасибо
