Оценка снимка, спор с зарубежными специалистами.

[Колян2]

У нас в основном чувствительность требуется или 0,4, или 0,3. Но на снимках всегда добиваемся 0,1.
Дефекты описываем все что найдем на пленке, хоть 0,1. Потому что мы их видим.

А нахрена? Вам мало дефектов при требуемой чувствительности? При завышенной обнаруживаем не только более мелкие дефекты, но и те, которые допустимы при предписанной,но могут казаться больше реальных. Поэкспериментируйте на досуге. Как-то попадалась методичка оценки снимков с завышенной чувствительностью и плотностью(под ВСН), неплохо бы найти и почитать, а то всяким Колянам2 на слово верить....

 

[UZK-Element]

которые допустимы при предписанной,но могут казаться больше реальных

с этого места поподробнее...

 

[Vlad_INSI]

А нахрена? Вам мало дефектов при требуемой чувствительности? При завышенной обнаруживаем не только более мелкие дефекты, но и те, которые допустимы при предписанной,но могут казаться больше реальных. Поэкспериментируйте на досуге. Как-то попадалась методичка оценки снимков с завышенной чувствительностью и плотностью(под ВСН), неплохо бы найти и почитать, а то всяким Колянам2 на слово верить....

конкретно за антошку не скажу а так там половина снимков кручена на катушках молочных, им бы хоть что-то кроме дна написать...
ЗЫ. сейчас по просьбам отстающих уже 500 стыков 159-219-273 эмали накрутили...

 

[NDT55]

Непровар есть 100% и если вы считаете что у него размер ниже чувствительности контроля то нужно добиться что бы качество снимков соответствовало требуемой чувсвительности! а не фактической! Т.е. нужно загрубить чувствительность снимка до требуемой (поэксперементировать с параметрами рентгеновского аппарата, температурой проявки, рентгеновской пленки, экранами и т.д.) и возможно вы даже сэкономите на контроле т.е. (будите использовать более дешевые материалы, но добиваться требуемой чувствительности).

 

[Антошка]

А нахрена? Вам мало дефектов при требуемой чувствительности? При завышенной обнаруживаем не только более мелкие дефекты, но и те, которые допустимы при предписанной,но могут казаться больше реальных. Поэкспериментируйте на досуге. Как-то попадалась методичка оценки снимков с завышенной чувствительностью и плотностью(под ВСН), неплохо бы найти и почитать, а то всяким Колянам2 на слово верить....

При панорамном просвечивании своим аппаратом (зная все настройки и прочее)...

В общем можно конечно повысить одно, понизить другое и уменьшить чувствительность. Но в связи с тем, что Транснефть придирается к разнице оптических плотностей между эталоном 11 и металлом по другому не получается.

 

[Колян2]

При панорамном просвечивании своим аппаратом (зная все настройки и прочее)...

В общем можно конечно повысить одно, понизить другое и уменьшить чувствительность. Но в связи с тем, что Транснефть придирается к разнице оптических плотностей между эталоном 11 и металлом по другому не получается.

Мм-дя! Засада! Транснефть умом нам не понять...::

 

[Денис Леонидович]

Ребят, ISO 17636 регламентирует только РК. Укажите Ваш регламент, согласно которого проводится контроль вообще (ВИК, УК, РК). Там наверняка сказано, тем более раз контроль по международным стандартам, про ультразвуковой контроль. Вот им то и увидите свой непровар во всей красе (даже если пройдет по амплитуде, не пройдет по протяженности). И вопросов не будет. Если Ваша конечная цель - качество, а не бесполезная попытка оправдаться, зная, что очень большой шанс раскрытие непровара под нагрузкой) - не стоит в данной ситуации пытаться оспаривать наличие дефекта. Если у Вас есть гарантийные обязательства перед заказчиком - тем более обязательно проводите ультразвук. Даже для себя. Без заключений для заказчика работы стоят очень недорого.

 

[Денис Леонидович]

но могут казаться больше реальных.

Колян, просто для общего развития, поясните, как дефект может увеличиться в размерах (по отношению к реальному, а не "недораспознанному") при повышении чувствительности контроля? Желательно, со ссылками на литературу, и очень желательно не на художественную или научно-фантастическую. Или Вы светитите до такой степени, что разрушаются межкристаллические связи и дефект раскрывается? Тогда можно узнать мощность на трубке и время (в сутках) просветки стыка?
Даже казаться не может, если будете сравнивать с эталоном.

 

[boatsman]

со ссылками на литературу, и очень желательно не на художественную или научно-фантастическую

А просто головой подумать про геометрическую нерезкость слабО? Или консультирование отучило?

 

[Колян2]

Колян, просто для общего развития, поясните, как дефект может увеличиться в размерах (по отношению к реальному, а не "недораспознанному") при повышении чувствительности контроля? Желательно, со ссылками на литературу, и очень желательно не на художественную или научно-фантастическую. Или Вы светитите до такой степени, что разрушаются межкристаллические связи и дефект раскрывается? Тогда можно узнать мощность на трубке и время (в сутках) просветки стыка?
Даже казаться не может, если будете сравнивать с эталоном.

Поясню, но попозже-у меня нет Ваших возможностей доступа к НТД, да и работу мою(я простой дефектоскопист) за меня никто делать не будет. А пока для себя можете освежить в памяти физико-химический процесс получения скрытого изображения на детекторе и перевод его в видимое. В свою очередь прошу Вас, соответственно со ссылками на НТД, поподробнее обосновать применение УЗК на подобном ОК(толщина 6мм, лучевая сварка, требуется выявления непровара сопоставимого с выявленным РК при чувствительности не более 0,125мм) Можно узнать тип и размер(эквивалентный, разумеется) отражателя в СОП(НО) а также характеристики применяемого ПЭП? Или как всегда- "пятьшисятпять" как контрольный в голову?

 

[Денис Леонидович]

А просто головой подумать про геометрическую нерезкость слабО? Или консультирование отучило?

вопрос ставился о увеличении размера дефекто не при увеличении фокусного расстояния или использовании другого аппарата с другим фокусным пятном, а при рассмотрении дефекта по достигнутой чувствительности, большей, чем требуемая. Размер дефекта при этом не станет большим, чем реальный. Если вы проводите оценку по завышенной - значит, она достигнута, проверена по эталону. Если нет - можете ссылаться на нерезкость но тогда Вы не имеете права проводить контроль.
Итого - если вы достигли определенного уровня чувствительности и проводите по ней разбраковку правильно - дефекты не могут оказаться большими, чем реальные.

Колян, на счет УЗК, согласен, не могу сослаться на НТД так как с ISO не работаю. Нету у меня.

Ссылаться на химическую сущность получения снимка.... я же это и имел ввиду, когда просил без научной фантастики. Размеры эмульсионных микрокристаллов столь малы, что приводить как пример увеличения размеров не имеет смысла. К тому же, тут наоборот, на уже полученном снимке размер дефекта будет на сотые доли микрона меньше фактического, так как в итоге увеличивается уже экспонированый спектр (на пленке белого цвета).
Еще учитывайте, что размеры дефекта мы сравниваем с эталоном и фактический размер меняется эквивалентно изменению изображения эталона

 

[Колян2]

вопрос ставился о увеличении размера дефекто не при увеличении фокусного расстояния или использовании другого аппарата с другим фокусным пятном, а при рассмотрении дефекта по достигнутой чувствительности, большей, чем требуемая. Размер дефекта при этом не станет большим, чем реальный. Если вы проводите оценку по завышенной - значит, она достигнута, проверена по эталону. Если нет - можете ссылаться на нерезкость но тогда Вы не имеете права проводить контроль.
Итого - если вы достигли определенного уровня чувствительности и проводите по ней разбраковку правильно - дефекты не могут оказаться большими, чем реальные.

Колян, на счет УЗК, согласен, не могу сослаться на НТД так как с ISO не работаю. Нету у меня.

Ссылаться на химическую сущность получения снимка.... я же это и имел ввиду, когда просил без научной фантастики. Размеры эмульсионных микрокристаллов столь малы, что приводить как пример увеличения размеров не имеет смысла. К тому же, тут наоборот, на уже полученном снимке размер дефекта будет на сотые доли микрона меньше фактического, так как в итоге увеличивается уже экспонированый спектр (на пленке белого цвета).
Еще учитывайте, что размеры дефекта мы сравниваем с эталоном и фактический размер меняется эквивалентно изменению изображения эталона

Согласен. Благодарю за пояснения. К сожалению никогда не видел, чтобы кто-нибудь измерял размеры эталонов на снимках при обычной (не компьютерной)расшифровке-просматриваются нужные канавки и проволочки и ладно, сойдёт! А это неправильно...:: А экспонированый спектр-тёмный на негативном изображении...

 

[Денис Леонидович]

я простой дефектоскопист

так приходите работать к нам, инженером

 

[Колян2]

так приходите работать к нам, инженером

Нее, спасибо,лучше- Вы к нам!:Тоже шутка!)

 

[dyukermann]

Во-первых, нигде не встречал, чтобы чувствительность была именно столько. Она должна быть НЕ ХУЖЕ или НЕ БОЛЕЕ, а лучше сколько угодно. Т.е. если указано, что не более 0,125, то полученная 0,08 - это не бракованный снимок.
По включениям - если в документе прямо не указано, что не учитываем, то записываем все. В ПНАЭГ-7-10 указали, что включения менее 0,2мм не учитываются, то там и не учитываем.
Что касаемо ГОСТ 7512, что дефекты менее чувствительности контроля не выявляются, то к разбраковке это отношения не имеет. Это отмазка. В первой редакции это звучало как "не гарантируется выявление", и были вечные споры типа "если бы постарались, то увидели бы эту трещину". Слава богу, что изменили редакцию. Можно объяснить, почему на снимке чего-то нет, а в жизни есть. Но если на снимке есть, то оценивай.

Например, 3-й класс чувствительности по ГОСТ 7512.
для 219х6 - чувствительность не должна превышать значения 0.3 мм, для радиационной толщины Sрад=Sстенки + Sэталона;
для 89х3.5 - чувствительность не должна превышать значения 0.3 мм, для радиационной толщины Sрад=2*Sстенки + Sэталона.

Но согласно ГОСТ 7512:
"1.3. При радиографическом контроле не выявляют любые несплошности и включения с размером в направлении просвечивания менее удвоенной чувствительности контроля"
Это значит, что, например, допустимый непровар 5% от толщины стенки, то есть для Sстенки=6мм - допустимый непровар 0.3 мм, мы не выявим или возможно не выявим. Отсюда условие: чувствительность не должна превышать 0.05*Sстенки/2, то есть 0.15 мм. Значит чувствительность должна быть 0.1 мм.
Так?

 

[Атанас Атанасов]

Привет от България
Русский давно учил и ошибки будет много
и так:

Оценка согласно, ISO 17636

ето не правда !!! EN ISO 17636-1 стандарт-метод/How make it/
Стандарт для оценка: EN ISO 10675-1
Информация неполная: какая толщина ? Судя по

В заключении стоит чувствительность контроля 0,125 (W15)

если по EN ISO 17636-1, то 6.0<t<=8.0mm
Какой уровень принятия/level of acceptance/ ?

У вас есть дефектоскописти level II or III / EN ISO 9712 ?

 

[Alex 300kV]

для 219х6 - чувствительность не должна превышать значения 0.3 мм, для радиационной толщины Sрад=Sстенки + Sэталона;

как у вас на 219х6 Sрад получилась равна Sстенки? или вы по схеме 5а светить собрались?

 

[dyukermann]

как у вас на 219х6 Sрад получилась равна Sстенки? или вы по схеме 5а светить собрались?

Не равна. Sрад=Sстенки + Sэталона. Контроль по схеме 5г. А по-вашему нужно брать 2 толщины стенки для определения чувствительности контроля? Аргументируйте почему

 

[Alex 300kV]

Не равна. Sрад=Sстенки + Sэталона. Контроль по схеме 5г. А по-вашему нужно брать 2 толщины стенки для определения чувствительности контроля? Аргументируйте почему

Радиационная толщина (Radiation thickness) – суммарная длина участков оси рабочего пучка направленного первичного ионизирующего излучения в материале контролируемого объекта.
что тут аргументировать?

 

[dyukermann]

Радиационная толщина (Radiation thickness) – суммарная длина участков оси рабочего пучка направленного первичного ионизирующего излучения в материале контролируемого объекта.
что тут аргументировать?

Если у Вас на снимке оценивается только та сторона шва, которая прилегает к пленке (схема 5г), то необходимо брать одну толщину стенки при определении чувствительности контроля. При наличии на снимке двух оцениваемых сторон шва (прилежащая и противолежащая стороны к пленке) (схема 5в) необходимо использовать две толщины стенки. Так?