Таким образом, в объект контроля попадает пучок с высокой плотностью потока энергии. Для контроля крупнозернистых материалов, как-то аустенитные стали или литые изделия есть вероятность что наш пучок проникнет на гораздо большую глубину, чем если мы будем генерировать сигнал поочередно от каждого элемента и только потом математически обрабатывать эхо-сигналы.
мы уже об этом говорили. еще раз. если бы дефектоскоп не имел порога чувствительности т.е. мог принять любой сколько-нибудь малый сигнал, то никакой разницы бы не было. разница появляется из-за того, что усилитель дефектоскопа принципиально или конструктивно никак не реагирует на входной сигнал, скажем для определенности, меньше чем 5 мкВ. понятно, что волна излученная одним элементом затухнет до такого уровня уже на расстоянии 1 метр, а волна излученная десятком таких элементов и правильно сфазированная уменьшится до этих 5 мкВ уже на расстоянии 3 метра. и в этом смысле вы, конечно, правы. также точно длинные или большие ФР будут соотносится с маленькими ФР. смысл в физической фокусировке есть, это очевидно.
Например, у нас есть двухмерные (матричные) раздельно-совмещенные фразированные ПЭПы как раз для контроля аустенитных и биметаллических сварных швов. Можно ли реализовать такую схему прозвучивания с помощью метода SAFT или FMC?
ну, во-первых, чуть подробней что означает раздельно-совмещенная ФР. все ФР раздельно совмещенные. что такое раздельно-совмещенные фазированные ПЭПы я только могу догадываться. ну и несколько слов про преимущества ФР для контроля аустенита, чем они хороши? не то, чтобы я не знал, но давайте сверим позиции.
в отношении SAFT, а что технология физической фокусировки это не те же принципы SAFT. SAFT первоначально была реализована одним или двумя перемещающимися преобразователями, которые позиционировались, а уж потом делалась обработка, которая была эквивалентна работе преобразователя с очень большими размерами, а соответственно и с высокой разрешающей способностью и возможностью эффективной фокусировки (чего на малых ФР достичь не возможно). современная реализация заключается лишь в том, что преобразователи не надо перемещать, они уже размещены по поверхности, но не по всей, а только в некоторой области, что есть нехорошо т.к. визуализация получается только в непосредственной близости от ФР, а в дальней зоне уже не так хорошо. все работает на одних и тех же принципах. методов обработки можно придумать много, особенно адаптированных к выявлению определенных несплошностей. преимущества именно ФР перед механическим сканированием в скорости сбора информации (когда все укрыто ковром из ПЭП), время сбора может отличаться на несколько порядков. в общем нюансов практической реализации море и именно это мы пытаемся понять, а принцип то один тот же (ну можно некоторые различия как принципиальные отмечать в методах обработки- во временной области или частотной, но мы говорили только о SAFT).