Эммм…, с чего бы начать? Ну, во-первых, я весьма рад, что повеселил Вас в воскресенье. Во-вторых, Вы все совершенно правильно сказали, но провели неверную аналогию. О чем Вы говорите? Вы говорите о пленке и поле негатоскопа равных размеров. И это не совсем то, о чем говорю я. Почему? Объясню на примерах, раз уж примеры Вам более близки, чем теория в голом виде. Что мы имеем исходя из вашего примера?
1 Источник света некоторой площади (тут надо дополнить, что к данному источнику света предъявляются требования не только по максимальной яркости, но и по равномерности освещенного поля, т.е. каждая точка данного источника света испускает примерно одинаковое количество света).
2 Пленка, одинаковой площади и габаритами с источниками света (она-же, следуя вашей аналогии и есть дефект),
Т.е. Вы взяли дефект, одинаковый по своим размерам с источником, приложили его вплотную к источнику, т.е. закрыли его, и теперь удивляетесь, почему дефект видно. Согласитесь, поры 3мм диаметром будут видны при контроле ГИИД5 (Ф=3мм), пожалуй, с любого фокусного расстояния, и более того оптическая плотность внутри площади выявленной поры будет разной, потому что глубина дефекта в направлении просвечивания тоже разная, и почему же Вы тогда удивляетесь, что мы на пленке видим изображение дефектов?
Попробуем несколько изменить Ваш пример, чтобы стало понятно, о чем говорю я. Давайте изменим габариты пленки (дефекта) в меньшую сторону на 10% по каждой стороне, и разместим пленку точно по центру освещенного поля. Что мы увидим? Мы сможем увидеть, а именно, - рассмотреть, от силы 80% оставшейся площади пленки (дефекта) потому что не закрытая часть освещенного поля будет забивать нам глаза ярким светом (Тут надо вспомнить о документах с требованиями наличия в лаборатории масок, шторок и экранов для негатоскопов). Как нам увидеть всю пленку (дефект) при этом не изменяя площади освещенного поля негатоскопа, площади оставшейся пленки и расстояния «негатоскоп (источник света) - глаз (детектор)». Надо отнести пленку вдоль оси пучка излучения негатоскопа в направлении глаза на такое расстояние, чтобы пленка перекрыла все освещенное поле, так? Т.е. для пленки (дефекта) мы увеличили расстояние «пленка (дефект) – негатоскоп (источник)» и все опять стало видно. Т.е. по аналогии с радиографией мы увеличили фокусное расстояние и уменьшили расстояние «дефект-детектор».
Пример 2: летит самолет 70 метров длиной, его курс относительно Вашей точки наблюдения пересекает прямую «Ваш глаз – Солнце». Если он пролетит на высоте 1000м, то в момент пересечения самолетом указанной прямой Вы его увидите? Однозначно. Допустим, Вы прекрасно разбираетесь в самолетах (как хороший дефектоскопист в порах). Но если Вы его (самолет) до этого не видели, и не знаете габаритов самолета, Вы сможете в момент пересечения данным самолетом указанной прямой лишь примерно сказать, что это за самолет. Вы сможете сказать примерно следующее: какой-то самолет длиной от стольки-то до стольки-то, так? А если он пересечет указанную прямую на высоте 100м? детали явно станут видны лучше, и охарактеризовать его вы сможете лучше, так? А если он пролетит на высоте 4500 метров? Да вы его вообще не увидите. Что меняется во всех трех случаях? Только расстояние «самолет-Солнце», и расстояние «самолет-глаз» больше ничего. Т.е. фокусное расстояние по-нашему и расположение дефекта в толщине материала, так? Но давайте понимать, что расстояние «дефект – детектор» изменить зачастую невозможно, т.к. это означает, что надо убрать часть толщины контролируемого материала. А в оцифровке есть еще проблема, кроме той, что пленка имеет свою толщину. Это физический размер одной единицы светочувствительной части детектора, давайте назовем его пиксел, для простоты. И надо понимать, что размер такого пиксела не может быть близким 0, а раз так, то надо уменьшать размер источника света, что тоже под вопросом. Следовательно, остается только регулировать расстоянием «источник света – пленка».
Я говорил о дефектах, размеры которых меньше размеров источника света, я говорил о том, что если нет возможности физически уменьшить размер источника света, то надо соблюсти примерно те же правила по увеличению расстояния «источник света – дефект в пленке». И это отчасти подтверждается практикой наших с Вами коллег. Прочтите, пожалуйста, 5-е сообщение в этом-же топике, я сомневаюсь, что дело только в плотности снимка.
Называть ГОСТ 7512 сборником мифов – это очень смело. Я бы никогда не рискнул целый институт людей, а возможно и не один институт, называть фантазерами, основываясь лишь на своем опыте и своих знаниях.
P.S. в приведенном мной примере про «трубу» 8500х42 эталон стоял во всех случаях со стороны источника, ведь в случае невозможности установки эталона таким образом, я, если не ошибаюсь, должен бы был отработать технологию контроля на макете сварного соединения с целью выяснения чувствительности контроля таким способом, и да, это придумали те же фантазеры.
